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  • 2024

    1-30

    可靠性测试中HALT实验与HASS实验的区别

    什么是HALT试验?HALT(HighlyAcceleratedLifeTest)的全称是高加速寿命试验。HALT是一种通过施加逐级递增的环境应力或工作载荷,来加速暴露产品的缺陷和薄弱点的试验方法。主要应用于产品开发阶段,它能以较短的时间促...

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  • 2024

    1-16

    专家访谈丨中国“芯”饱受良率之痛,芯片制造该如何破局?

    本期话题芯片被称为信息产业的粮食和“大脑”,是信息社会的基石,在信息化、智能化不断加快的今天,芯片已经成为战略性、基础性产业。可以说,芯片作为支撑中国经济持续高质量发展、特别是支撑战略性新兴产业崛起,其地位更是难以替代。然而,芯片制造是一项...

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  • 2024

    1-11

    技术干货| 关于电子元器件空间辐射单粒子效应的考核

    宇宙遍布着各种高能量的辐射粒子,这些粒子会对元器件带来影响,如何进行抗辐射设计成为了工程师针对逻辑类数字电路、存储器以及某些功率器件的一个必要考量。宇宙空间中存在能量高而数量极低的辐射粒子,这些粒子会造成瞬态巨大的电离能量沉积。沉积的能量可...

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  • 2024

    1-4

    技术分享丨CAN/CANFD一致性测试

    在汽车“新四化”的浪潮下,现代汽车的电子化程度逐步提高,越来越多的电子控制单元(ECU)加入到汽车的功能控制中,各ECU通过CAN/CANFD等总线技术实现相互通讯,汽车CAN总线网络变得越来越复杂。各个CAN节点质量良莠不齐,可能会给车辆...

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  • 2023

    12-29

    技术干货| 光纤连接器可靠性要求

    光纤连接器推动大数据时代发展未来网络将更加依赖可靠的光连接。近年来,智慧城市、固定宽带、移动互联网和物联网等产业的快速发展,推动了大数据与云计算的快速增长。每天都有海量数据产生,需要传输、存储和处理的数据呈几何级数增加,信息发展进入了大数据...

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  • 2023

    12-29

    技术科普| 电子产品可靠性评价方法:MTBF可靠性评价介绍

    客户需求在推出新产品时,客户经常询问产品的可使用年限以及如何确保用户能够正常使用若干年(如三年以上)。以每天使用10小时为例,产品需要保证三年使用期间内11000小时可靠期限。特别是在产品设计、验证和推广阶段,产品设计方特别关注产品的可靠性...

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